MOQ: | 1 |
価格: | Customized |
標準パッケージ: | カートン |
配達期間: | 5日 |
支払方法: | T/T |
供給能力: | 1ヶ月あたりの100セット |
照明器具SELVの部品の温度上昇のテストIEC 60598-1のためのテスト鎖
テスト鎖のための標準及び節:
IECの60598-1:2014の「指導者Part1:一般要求事項およびテスト」節4.26および図29
テスト鎖のためのサンプルそして制限:
反対の極性の照明器具非絶縁の入手しやすいSELVの部品
テスト鎖のためのテスト主義:
200 g/mの負荷と伸びたときに光沢が無い金属の十分な長さのテスト鎖は、リンクをそして63%のCU/37%のZnの作られて持っていて、負荷テストにそして2.5 Ω/m ±20%の抵抗の価値を持っていて、反対の極性の非絶縁の入手しやすいSELVの部品のためのショートの温度の上昇のテストを達成するために協力する
テスト鎖のための構造:
63%のCU/37%のZnの作られる
テスト鎖のための適用:
反対の極性の非絶縁の入手しやすいSELVの部品のための故意ではないショートの温度の上昇のテストを処理するのに使用されてそこに確認するために十分な平均提供される損害安全を防ぐためにである。
テスト鎖のための技術的な変数:
材料 | 63%のCU/37%のZn |
次元及び形 | IECの60598-1:2014図29の直径に合致する:Ф2±0.2mmはリンクから、金属の鎖、光沢が無い成っている |
抵抗 | 2.5 200 g/mの負荷と伸びた時Ω/m ±20% |
テスト方法 |
1. テスト鎖の抵抗の価値は各測定の前に200 g/m.の負荷と伸びたときに2.5 Ω/m ±20%であるために抵抗の価値を保障するように点検されるべきである。 2. SELVの部品の極性間の間隔の間隔、印Xの単位を測定しなさい:cm. 3. 標本、weights=15×Xにテスト鎖を置けば最高重量250gはテスト鎖の各端で掛かるべきである。 4. 熱電対はテスト サンプルの適切な位置に置かれ、温度の測定装置に接続される。 5. アクセス サンプルをテストする評価される電圧の0.9-1.1回。 6. テスト鎖が溶けない監視しなさい、またはタイプ テスト サンプルのあらゆる一部分達する標準的な必須の価値を超過する温度にこと(12.1および12.2 IECの60598-1:2014のテーブルを参照しなさい) |
MOQ: | 1 |
価格: | Customized |
標準パッケージ: | カートン |
配達期間: | 5日 |
支払方法: | T/T |
供給能力: | 1ヶ月あたりの100セット |
照明器具SELVの部品の温度上昇のテストIEC 60598-1のためのテスト鎖
テスト鎖のための標準及び節:
IECの60598-1:2014の「指導者Part1:一般要求事項およびテスト」節4.26および図29
テスト鎖のためのサンプルそして制限:
反対の極性の照明器具非絶縁の入手しやすいSELVの部品
テスト鎖のためのテスト主義:
200 g/mの負荷と伸びたときに光沢が無い金属の十分な長さのテスト鎖は、リンクをそして63%のCU/37%のZnの作られて持っていて、負荷テストにそして2.5 Ω/m ±20%の抵抗の価値を持っていて、反対の極性の非絶縁の入手しやすいSELVの部品のためのショートの温度の上昇のテストを達成するために協力する
テスト鎖のための構造:
63%のCU/37%のZnの作られる
テスト鎖のための適用:
反対の極性の非絶縁の入手しやすいSELVの部品のための故意ではないショートの温度の上昇のテストを処理するのに使用されてそこに確認するために十分な平均提供される損害安全を防ぐためにである。
テスト鎖のための技術的な変数:
材料 | 63%のCU/37%のZn |
次元及び形 | IECの60598-1:2014図29の直径に合致する:Ф2±0.2mmはリンクから、金属の鎖、光沢が無い成っている |
抵抗 | 2.5 200 g/mの負荷と伸びた時Ω/m ±20% |
テスト方法 |
1. テスト鎖の抵抗の価値は各測定の前に200 g/m.の負荷と伸びたときに2.5 Ω/m ±20%であるために抵抗の価値を保障するように点検されるべきである。 2. SELVの部品の極性間の間隔の間隔、印Xの単位を測定しなさい:cm. 3. 標本、weights=15×Xにテスト鎖を置けば最高重量250gはテスト鎖の各端で掛かるべきである。 4. 熱電対はテスト サンプルの適切な位置に置かれ、温度の測定装置に接続される。 5. アクセス サンプルをテストする評価される電圧の0.9-1.1回。 6. テスト鎖が溶けない監視しなさい、またはタイプ テスト サンプルのあらゆる一部分達する標準的な必須の価値を超過する温度にこと(12.1および12.2 IECの60598-1:2014のテーブルを参照しなさい) |