| MOQ: | 1 |
| 価格: | Customized |
| 標準パッケージ: | アルミボックス |
| 配達期間: | 3~5日 |
| 支払方法: | T/T |
| 供給能力: | 1ヶ月あたり100個 |
IEC 61032 試験探査機 11 搭載された 75 N 力のダイナモメーター 安全準拠ツール
製品概要:
IEC 61032 試験探査機11は,電機および電子機器の保護障壁の正確な検証のために設計された,75 Nのダイナモメーターを装備した特殊な安全評価ツールです.IEC 61032 図 7 規格に準拠して設計されたこの試験探査器は,設備の囲みや開口が,通常の操作と取り扱い中に危険な電源部品と偶然接触するのを防ぐのに役立ちます.
この試験探査機は 人間の指を模倣して設計され 制御された力を用いて 穴や障壁を検査しますIEC 61032 の安全要件や,IEC 60884-1 のような関連国際基準を満たすのに役立ちますIEC 60669-1 と IEC 60335-1 で,無意図の指のアクセスに対する効果的な保護を確認するために,ソケット,家電器のハウジング,または他の電気製品をテストするのに理想的です.
テクニカルパラメータ:
| パラメータ/モデル | SN2210-7T |
| 名前 | 試験探査機11とダイナモメーター |
| 探査機先の長さ (mm) | 19.95.2000 |
| 探査機の長さ (mm) | 80±02 |
| 探査機先の円筒半径 (mm) | R2±005 |
| 探査機先の球状半径 (mm) | R4±005 |
| 探査機先の円筒形角 (°) | 37o0〜10 |
| 探査機先の球状角 (°) | 14o0〜10 |
| 探査器直径 (mm) | F12 0-0 やってくれ05 |
| 防具直径 (mm) | フ50 |
| 保護の厚さ (mm) | 5±05 |
| 内蔵ダイナモメーター | 0-75N の力, 5N の解像度 |
主要機能と特徴:
組み込み75 Nの力測定装置:試験中に施された力を測定する5 Nの解像度を持つ内蔵ダイナモメーターを含む.
抗ショック能力: バナナプラグインターフェイスで設計され,適用される場合,抗電気ショック検証に使用できます.
堅牢な構造:精密なプローブジオメトリにより,信頼性と繰り返し可能な試験結果が保証されます.
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| MOQ: | 1 |
| 価格: | Customized |
| 標準パッケージ: | アルミボックス |
| 配達期間: | 3~5日 |
| 支払方法: | T/T |
| 供給能力: | 1ヶ月あたり100個 |
IEC 61032 試験探査機 11 搭載された 75 N 力のダイナモメーター 安全準拠ツール
製品概要:
IEC 61032 試験探査機11は,電機および電子機器の保護障壁の正確な検証のために設計された,75 Nのダイナモメーターを装備した特殊な安全評価ツールです.IEC 61032 図 7 規格に準拠して設計されたこの試験探査器は,設備の囲みや開口が,通常の操作と取り扱い中に危険な電源部品と偶然接触するのを防ぐのに役立ちます.
この試験探査機は 人間の指を模倣して設計され 制御された力を用いて 穴や障壁を検査しますIEC 61032 の安全要件や,IEC 60884-1 のような関連国際基準を満たすのに役立ちますIEC 60669-1 と IEC 60335-1 で,無意図の指のアクセスに対する効果的な保護を確認するために,ソケット,家電器のハウジング,または他の電気製品をテストするのに理想的です.
テクニカルパラメータ:
| パラメータ/モデル | SN2210-7T |
| 名前 | 試験探査機11とダイナモメーター |
| 探査機先の長さ (mm) | 19.95.2000 |
| 探査機の長さ (mm) | 80±02 |
| 探査機先の円筒半径 (mm) | R2±005 |
| 探査機先の球状半径 (mm) | R4±005 |
| 探査機先の円筒形角 (°) | 37o0〜10 |
| 探査機先の球状角 (°) | 14o0〜10 |
| 探査器直径 (mm) | F12 0-0 やってくれ05 |
| 防具直径 (mm) | フ50 |
| 保護の厚さ (mm) | 5±05 |
| 内蔵ダイナモメーター | 0-75N の力, 5N の解像度 |
主要機能と特徴:
組み込み75 Nの力測定装置:試験中に施された力を測定する5 Nの解像度を持つ内蔵ダイナモメーターを含む.
抗ショック能力: バナナプラグインターフェイスで設計され,適用される場合,抗電気ショック検証に使用できます.
堅牢な構造:精密なプローブジオメトリにより,信頼性と繰り返し可能な試験結果が保証されます.
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